Dr. Leon Scherz

Dr. sc. ETH Zürich

Dr. Leon SCHERZ
Tel.: +41 (0)71 913 95 55    Fax: +41 (0)71 913 95 56
E-mail: leon.scherz@hepp.ch    

Leon Scherz ist Patentanwaltskandidat bei Hepp Wenger Ryffel. Er unterstützt Mandanten bei Patenterteilungsverfahren im In- und Ausland und führt Patentierbarkeits- und Freedom-to-Operate-Recherchen durch. Er wirkt zudem an europäischen und internationalen Einspruchs-, Nichtigkeits- und Verletzungsverfahren mit.

Leon Scherz hat Chemie an der Technischen Universität München studiert und am Institut für Polymere der ETH Zürich in Polymerchemie promoviert. Dabei lagen die Schwerpunkte seines Studiums im Bereich der Organischen Chemie, der Analytischen Chemie sowie der Makromolekularen Chemie.

Durch seine mehrjährige Entwicklertätigkeit in der Automobilbranche und der Ophthalmik verfügt er auch über praktische Erfahrungen in einem breiten Spektrum weiterer technischer Gebiete.

Im August 2019 trat Leon Scherz bei Hepp Wenger Ryffel die Ausbildung zum Europäischen Patentanwalt an.

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